Sie sind hier: Home > Arbeitskreise > Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung > Aktivitäten >

Arbeitskreise

Obmann

Dr.-Ing. P. D. Portella
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung BAM OE V
Unter den Eichen 87
12205 Berlin
Tel.: +49 (0)30 8104 1500
Fax: +49 (0)30 8104 1507
pedro.portella((at))bam.de

Stellvertreter

Dr.-Ing. Dirk Bettge
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung BAM
Tel.:(030)8104-1512
fraktographie(at)dvm-berlin.de

Gemeinschaftsgremium DVM/DGM Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung

AG Fraktographie (DVM)

Kontakt: Dr.-Ing. Dirk Bettge, Tel.:(030)8104-1512,
fraktographie(at)dvm-berlin.de
Gründungsveranstaltung, Berlin, September 2010
weitere Informationen und Termine

AG Mikrostrukturcharakterisierung am Rasterelektronenmikroskop (DGM)

Anwendung des EBSD-Verfahrens
Leitung: Dr. Gert Nolze, BAM, Berlin
(gert.nolze(at)bam.de)

AG in situ Prüfung (DGM)

in erster Linie werkstoffmechanische Prüfung
eventuell funktionale Prüfungen
Vorbereitung: Dr. Ulrich Krupp, Siegen

Annalen:

Auflösung des AK Mikro- und Nano-Prüftechnik
Fortführung der Aktivitäten im Bereich REM
Treffen in Frankfurt im November 2002
Treffen in Berlin im Juli 2003