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Gemeinschaftsgremium DVM/DGM Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung

Obmann
Dr.-Ing. P. D. Portella
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung BAM OE V
Unter den Eichen 87
12205 Berlin
Tel.: +49 (0)30 8104 1500
Fax: +49 (0)30 8104 1507
pedro.portella(at)bam.de

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